Acontece na próxima-quinta-feira (30) o seminário "Microscopia como ferramenta de caracterização de materiais", a partir das 14h30 no auditório do CEPER da Universidade do Estado do Rio de Janeiro.

O evento, gratuito, é destinado para não microscopista e os participantes receberão certificados após o seminário.

Durante a palestra serão apresentados casos práticos de caracterização na área de materiais pelo microscopista Jonas de Britto, do LABMEL da UERJ.

O endereço do auditório do CEPER, localizado no Laboratório de Engenharia Mecânica da UERJ, é na Rua Fonseca Teles , 121 - Prédio Anexo – São Cristóvão - Rio de Janeiro.

Autor(es): ABM - Associação Brasileira de Metalurgia e Materiais

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